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  • HCAM-4000V華測壓電材料高壓放大器
    HCAM-4000V華測壓電材料高壓放大器

    更新時間：2024-07-19

    型號：HCAM-4000V

    瀏覽量：1322

    華測壓電材料高壓放大器HCAM是一款理想的可放大交直流信號的單通道高壓放大器。大差分輸出 1600Vp-p（±800Vp）高壓，可以驅(qū)動高壓型負(fù)載。電壓增益數(shù)控可調(diào)，一鍵保存常用設(shè)置，提供了方便簡潔的操作選擇，可與主流的信號發(fā)生器配套使用，實現(xiàn)信號的放大。
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  • HCYD-800華測壓電材料居里溫度測試儀 機(jī)電耦合系數(shù)
    HCYD-800華測壓電材料居里溫度測試儀 機(jī)電耦合系數(shù)

    更新時間：2024-06-12

    型號：HCYD-800

    瀏覽量：1041

    華測壓電材料居里溫度測試儀 機(jī)電耦合系數(shù)可以分析被測樣品D33常數(shù)隨溫度、頻率、時間變化的曲線。通過軟件將這些變化曲線的溫度譜、時間譜等集成一體并進(jìn)行分析測量并可以直接得出樣品的壓電溫譜圖。對試樣大小及形狀無特殊要求，圓片、圓環(huán)、圓管、方塊、長條、柱形及半球殼等均可測量，可廣泛用于鐵電、壓電材料（壓電陶瓷、高分子）以及相關(guān)器件的評價與測試。
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  • HPZT-200壓電材料居里溫度測試儀
    HPZT-200壓電材料居里溫度測試儀

    更新時間：2023-08-29

    型號：HPZT-200

    瀏覽量：1088

    壓電材料居里溫度測試儀可以分析被測樣品D33常數(shù)隨溫度、頻率、時間變化的曲線。通過軟件將這些變化曲線的溫度譜、時間譜等集成一體并進(jìn)行分析測量并可以直接得出樣品的壓電溫譜圖。對試樣大小及形狀無特殊要求，圓片、圓環(huán)、圓管、方塊、長條、柱形及半球殼等均可測量，可廣泛用于鐵電、壓電材料（壓電陶瓷、高分子）以及相關(guān)器件的評價與測試。
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  • HCGL-1000華測高溫管式爐測試儀
    HCGL-1000華測高溫管式爐測試儀

    更新時間：2023-08-09

    型號：HCGL-1000

    瀏覽量：1186

    華測高溫管式爐測試儀可以勻速、階梯（升\降溫）、循環(huán)沖擊，真空、氣氛等多種的加熱方式，采用全電子控制技術(shù)，可實現(xiàn)控制精度波動0.5°C以內(nèi)，溫控精度之高。 加熱速度之快，同時它可以提供了材料的多的性測試環(huán)境。
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  • HCGL-1000高溫管式爐測試儀
    HCGL-1000高溫管式爐測試儀

    更新時間：2023-08-09

    型號：HCGL-1000

    瀏覽量：1219

    高溫管式爐測試儀可以勻速、階梯（升\\降溫）、循環(huán)沖擊，真空、氣氛等多種的加熱方式，采用全電子控制技術(shù)，可實現(xiàn)控制精度波動0.5°C以內(nèi)，溫控精度之高。 加熱速度之快，同時它可以提供了材料的多的性測試環(huán)境。
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  • HCTZ-2S北京華測*四探針測試儀
    HCTZ-2S北京華測*四探針測試儀

    更新時間：2024-06-13

    型號：HCTZ-2S

    瀏覽量：1761

    HCTZ-2S北京華測*四探針測試儀器是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備。儀器由主機(jī)、測試臺、四探針探頭、計算機(jī)等部分組成，測量數(shù)據(jù)既可由主機(jī)直接顯示，亦可由計算機(jī)控制測試采集測試數(shù)據(jù)到計算機(jī)中加以分析，然后以表格，圖形方式統(tǒng)計分析顯示測試結(jié)果。
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  • 醫(yī)用耐壓測試儀系列
    醫(yī)用耐壓測試儀系列

    更新時間：2023-08-21

    型號：

    瀏覽量：1556

    醫(yī)用耐壓測試儀系列是符合GB9706.1規(guī)則的交流耐壓測試儀，主要用于檢測醫(yī)用電子設(shè)備材料的絕緣強度等技術(shù)指標(biāo)。該儀器外形美觀、操作方便，輸出電壓由數(shù)字面板表顯示，清晰、直觀、準(zhǔn)確。整機(jī)技術(shù),布局合理，具有、可靠性好、維修方便等優(yōu)點。
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  • HCTZ-2S北京華測試驗儀器四探針測試儀
    HCTZ-2S北京華測試驗儀器四探針測試儀

    更新時間：2023-08-29

    型號：HCTZ-2S

    瀏覽量：1370

    HCTZ-2S北京華測試驗儀器四探針測試儀器是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測試方法標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計的，于測試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻（薄層電阻）的儀器。儀器由主機(jī)、測試臺、四探針探頭、計算機(jī)等部分組成，測量數(shù)據(jù)既可由主機(jī)直接顯示，亦可由計算機(jī)控制測試采集測試數(shù)據(jù)到計算機(jī)中加以分析，然后以表格，圖形方式統(tǒng)計分析顯示測試結(jié)果。
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