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  • 華測(cè)半導(dǎo)體封裝材料高低溫真空探針臺(tái)
    華測(cè)半導(dǎo)體封裝材料高低溫真空探針臺(tái)

    更新時(shí)間:2024-09-05

    型號(hào):

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    華測(cè)半導(dǎo)體封裝材料高低溫真空探針臺(tái),溫度范圍77K-675K(液氮);可應(yīng)用于真空及常規(guī)環(huán)境;超高溫度分辨率;特殊客制低溫系統(tǒng);具有較好穩(wěn)定性
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  • Huace-6S半導(dǎo)體封裝材料高低溫探針臺(tái)
    Huace-6S半導(dǎo)體封裝材料高低溫探針臺(tái)

    更新時(shí)間:2024-09-05

    型號(hào):Huace-6S

    瀏覽量:801

    半導(dǎo)體封裝材料高低溫探針臺(tái),可用于12英寸以?xún)?nèi)樣品測(cè)試,采用密閉腔結(jié)構(gòu),屏蔽外部電信干擾同時(shí)保持氮?dú)庹龎涵h(huán)境下樣品在低溫時(shí)無(wú)結(jié)霜。
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  • Huace-8 綜合性分析探針臺(tái)
    Huace-8 綜合性分析探針臺(tái)

    更新時(shí)間:2024-06-04

    型號(hào):

    瀏覽量:963

    Huace-8 綜合性分析探針臺(tái)zd可用于12英寸以?xún)?nèi)樣品測(cè)試; 操作便捷,功能其全,高效精準(zhǔn); 可滿(mǎn)足晶片測(cè)試、光電器件測(cè)試、PCB/IC測(cè)試、射頻測(cè)試、高壓大電流測(cè)試等
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  • Huace-8D 雙面探針臺(tái)
    Huace-8D 雙面探針臺(tái)

    更新時(shí)間:2024-06-04

    型號(hào):

    瀏覽量:823

    Huace-8D 雙面探針臺(tái)可用于晶圓和PCB板測(cè)試,用于需要正面和背面同時(shí)扎針,以實(shí)現(xiàn)各種光/電性能測(cè)試需求的測(cè)試設(shè)備。
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